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　　測定限（limit of determination）為定量范圍的兩端，分別為測定上限與測定下限。

　　1、測定下限

　　在測定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能準確地定量測定待測物質的zui小濃度或量，稱為該方法的測定下限。
　　測定下限反映出分析方法能準確地定量測定低濃度水平待測物質的極限可能性。在沒有（或消除了）系統誤差的前提下，它受精密度要求的限制（精密度通常以相對標準偏差表示）。分析方法的精密度要求越高，測定下限高于檢出限越多。
　　美國EPA SW-846規定4MDL為定量下限（RQL ），即4倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的相對標準偏差約為10%。日本JIS規定定量下限為10倍的MDL。

　　2、測定上限

　　在限定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能夠準確地定量測量待測物質的zui大濃度或量，稱為該方法的測定上限。
　　對沒有（或消除了）系統誤差的特定分析方法的精密度要求不同，測定上限也將不同。文章由華晨儀器整理。